BS ISO 17109:2022

Surface chemical analysis. Depth profiling. Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy, Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter dept profiling using single and multi-layer thin films.

NORMA vydaná dňa 31.3.2022

Informácie o norme:

Označenie normy: BS ISO 17109:2022
Dátum vydania normy: 31.3.2022
Kód tovaru: NS-1197867
Počet strán: 32
Približná hmotnosť: 96 g (0.21 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS