Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BS ISO 17109:2015
Surface chemical analysis. Depth profiling. Method for sputter rate determination in X-ray photoelectron spectroscopy. Auger electron spectroscopy and secondary-ion mass spectrometry sputter depth profiling using single and multi-layer thin films.
Automaticky preložený názov:
Povrchová chemickej analýzy. Hĺbka profilovanie. Metóda prskať stanovení sadzieb v X - ray fotoelektronové spektroskopia , Auger elektrónová spektroskopia a sekundárne iónová hmotnostná spektrometria hĺbka elektróda profilovanie pomocou jedno a viacvrstvových tenkých vrstiev
NORMA vydaná dňa 31.8.2015
Informácie o norme:
Označenie normy: BS ISO 17109:2015
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 31.8.2015
Kód tovaru: NS-612997
Počet strán: 28
Približná hmotnosť: 84 g (0.19 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
Doporučujeme:
