Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Surface chemical analysis. Depth profiling. Methods for ion beam alignment and the associated measurement of current or current density for depth profiling in AES and XPS.
NORMA vydaná dňa 6.10.2020
Označenie normy: BS ISO 16531:2020
Dátum vydania normy: 6.10.2020
Kód tovaru: NS-1006936
Počet strán: 28
Približná hmotnosť: 84 g (0.19 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
ISBN: 978 0 539 05785 0 Status: Confirmed
Posledná aktualizácia: 2026-08-11 (Počet položiek: 2 292 404)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.