Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BS ISO 16413:2020
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry. Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting.
NORMA vydaná dňa 18.8.2020
Informácie o norme:
Označenie normy: BS ISO 16413:2020
Dátum vydania normy: 18.8.2020
Kód tovaru: NS-1002512
Počet strán: 42
Približná hmotnosť: 126 g (0.28 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy BS ISO 16413:2020 :
ISBN: 978 0 539 01652 9 Status: Definitive
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
