Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry. Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting.
NORMA vydaná dňa 18.8.2020
Označenie normy: BS ISO 16413:2020
Dátum vydania normy: 18.8.2020
Kód tovaru: NS-1002512
Počet strán: 42
Približná hmotnosť: 126 g (0.28 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
ISBN: 978 0 539 01652 9 Status: Definitive
Posledná aktualizácia: 2026-08-07 (Počet položiek: 2 292 304)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.