Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BS ISO 16413:2013
Evaluation of thickness, density and interface width of thin films by X-ray reflectometry. Instrumental requirements, alignment and positioning, data collection, data analysis and reporting.
Automaticky preložený názov:
Vyhodnotenie hrúbky, hustoty a šírky rozhrania tenkých filmov X-ray reflektometrie. Inštrumentálne požiadavky, zarovnanie a umiestnenie, zber dát, analýzu dát a podávanie správ
NORMA vydaná dňa 31.3.2013
Informácie o norme:
Označenie normy: BS ISO 16413:2013
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 31.3.2013
Kód tovaru: NS-111357
Počet strán: 42
Približná hmotnosť: 126 g (0.28 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
