Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BS ISO 14706:2014
Surface chemical analysis. Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy.
Automaticky preložený názov:
Povrchu chemickej analýzy. Stanovenie povrchovej elementárneho kontaminácie kremíkových plátkov podľa celkovej-reflexie X-ray fluorescencie (TXRF) spektroskopia
NORMA vydaná dňa 31.7.2014
Informácie o norme:
Označenie normy: BS ISO 14706:2014
Dátum vydania normy: 31.7.2014
Kód tovaru: NS-110650
Počet strán: 36
Približná hmotnosť: 108 g (0.24 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy BS ISO 14706:2014 :
ISBN: 978 0 580 82725 9 Status: Under Review
Doporučujeme:
