Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BS ISO 14706:2000
Surface chemical analysis. Determination of surface elemental contamination on silicon wafers by total-reflection X-ray fluorescence (TXRF) spectroscopy.
Automaticky preložený názov:
Povrchová chemickej analýzy. Stanovenie povrchovej elementárne kontaminácie na kremíkových dosiek podľa celkovej - reflexie X - ray fluorescencie ( TXRF ) spektroskopia
NORMA vydaná dňa 15.5.2001
Informácie o norme:
Označenie normy: BS ISO 14706:2000
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 15.5.2001
Kód tovaru: NS-110649
Počet strán: 32
Približná hmotnosť: 96 g (0.21 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
Doporučujeme:
