Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Tracked Changes. Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness.
NORMA vydaná dňa 27.2.2020
Označenie normy: BS ISO 14701:2018-TC
Dátum vydania normy: 27.2.2020
Kód tovaru: NS-987071
Počet strán: 54
Približná hmotnosť: 162 g (0.36 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
ISBN: 978 0 539 11820 9 Status: Under Review
Posledná aktualizácia: 2026-07-14 (Počet položiek: 2 286 733)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.