Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BS ISO 14701:2018
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness.
NORMA vydaná dňa 5.11.2018
Informácie o norme:
Označenie normy: BS ISO 14701:2018
Dátum vydania normy: 5.11.2018
Kód tovaru: NS-904572
Počet strán: 26
Približná hmotnosť: 78 g (0.17 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy BS ISO 14701:2018 :
ISBN: 978 0 580 51949 9 Status: Under Review
