Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BS ISO 14701:2011
Surface chemical analysis. X-ray photoelectron spectroscopy. Measurement of silicon oxide thickness.
Automaticky preložený názov:
Povrchu chemickej analýzy. Röntgenová fotoelektronové spektroskopie. Meranie hrúbky oxidu kremičitého
NORMA vydaná dňa 31.8.2011
Informácie o norme:
Označenie normy: BS ISO 14701:2011
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 31.8.2011
Kód tovaru: NS-110647
Počet strán: 24
Približná hmotnosť: 72 g (0.16 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
