Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BS ISO 14237:2000
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Determination of boron atomic concentration in silicon using uniformly doped materials.
Automaticky preložený názov:
Povrchová chemickej analýzy. Sekundárne - ion hmotnostnej spektrometrie. Stanovenie bóru atómovej koncentrácie v kremíku pomocou jednotne aditivovaných materiálov
NORMA vydaná dňa 15.4.2000
Informácie o norme:
Označenie normy: BS ISO 14237:2000
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 15.4.2000
Kód tovaru: NS-110431
Počet strán: 32
Približná hmotnosť: 96 g (0.21 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
Doporučujeme:
