Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Surface Chemical Analysis. Atomic force microscopy. Procedure for in situ characterization of AFM probe shank profile used for nanostructure measurement.
Automaticky preložený názov:
Povrchu chemická analýza. Mikroskopia atomárnych síl. Postup pre in situ charakterizáciu AFM profilu stopky sonda pre meranie nanoštruktúr
NORMA vydaná dňa 31.8.2014
Označenie normy: BS ISO 13095:2014
Dátum vydania normy: 31.8.2014
Kód tovaru: NS-110045
Počet strán: 36
Približná hmotnosť: 108 g (0.24 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
ISBN: 978 0 580 67752 6 Status: Under Review
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2026-05-04 (Počet položiek: 2 275 493)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.