Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BS ISO 12406:2010
Surface chemical analysis. Secondary-ion mass spectrometry. Method for depth profiling of arsenic in silicon.
Automaticky preložený názov:
Povrchu chemickej analýzy. Sekundárny-ion hmotnostnej spektrometrie. Spôsob hĺbkové profilovanie arzénu v kremíka
NORMA vydaná dňa 30.11.2010
Informácie o norme:
Označenie normy: BS ISO 12406:2010
Dátum vydania normy: 30.11.2010
Kód tovaru: NS-109799
Počet strán: 24
Približná hmotnosť: 72 g (0.16 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy BS ISO 12406:2010 :
ISBN: 978 0 580 66874 6 Status: Confirmed
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
