Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices. Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors. Test method for bias temperature instability.
NORMA vydaná dňa 5.10.2022
Označenie normy: BS IEC 63275-1:2022
Dátum vydania normy: 5.10.2022
Kód tovaru: NS-1086526
Počet strán: 16
Približná hmotnosť: 48 g (0.11 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
ISBN: 978 0 539 12126 1 Status: Definitive
Posledná aktualizácia: 2026-11-04 (Počet položiek: 2 209 068)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.