Norma BS IEC 63275-1:2022 5.10.2022 náhľad

BS IEC 63275-1:2022

Semiconductor devices. Reliability test method for silicon carbide discrete metal-oxide semiconductor field effect transistors. Test method for bias temperature instability.



NORMA vydaná dňa 5.10.2022


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena192.80 € bez DPH
192.80 €

Informácie o norme:

Označenie normy: BS IEC 63275-1:2022
Dátum vydania normy: 5.10.2022
Kód tovaru: NS-1086526
Počet strán: 16
Približná hmotnosť: 48 g (0.11 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS

Kategórie - podobné normy:

Tranzistory

Anotácia textu normy BS IEC 63275-1:2022 :

ISBN: 978 0 539 12126 1 Status: Definitive

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.