Norma BS IEC 63068-5:2026 13.10.2026 náhľad

BS IEC 63068-5:2026

Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices. Test method for defects using X-ray topography.



NORMA vydaná dňa 13.10.2026


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena315.00 € bez DPH
315.00 €

Informácie o norme:

Označenie normy: BS IEC 63068-5:2026
Dátum vydania normy: 13.10.2026
Kód tovaru: NS-1288527
Počet strán: 36
Približná hmotnosť: 108 g (0.24 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS

Anotácia textu normy BS IEC 63068-5:2026 :

ISBN: 978 0 539 32631 4 Status: Definitive

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.