Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices. Non-destructive recognition criteria of defects in silicon carbide homoepitaxial wafer for power devices. Test method for defects using X-ray topography.
NORMA vydaná dňa 13.10.2026
Označenie normy: BS IEC 63068-5:2026
Dátum vydania normy: 13.10.2026
Kód tovaru: NS-1288527
Počet strán: 36
Približná hmotnosť: 108 g (0.24 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
ISBN: 978 0 539 32631 4 Status: Definitive
Posledná aktualizácia: 2026-10-25 (Počet položiek: 2 208 009)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.