Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Standard for the common test interface pin map configuration for high-density, single-tier electronics test requirements utilizing IEEE Std 1505TM.
Automaticky preložený názov:
Štandardné pre spoločnú testovacie rozhranie pin mape konfiguráciu s vysokou hustotou, jednovrstvových elektronika skúšobných požiadaviek s využitím IEEE Std 1505 $ máme predsa $ uM
NORMA vydaná dňa 31.1.2016
Označenie normy: BS IEC 63003:2015
Dátum vydania normy: 31.1.2016
Kód tovaru: NS-625347
Počet strán: 174
Približná hmotnosť: 553 g (1.22 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
ISBN: 978 0 580 91106 4 Status: Definitive
Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2026-11-04 (Počet položiek: 2 209 068)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.