Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices. Stress migration test standard. Copper stress migration test standard.
NORMA vydaná dňa 21.7.2020
Označenie normy: BS IEC 62880-1:2017
Dátum vydania normy: 21.7.2020
Kód tovaru: NS-999493
Počet strán: 28
Približná hmotnosť: 84 g (0.19 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
ISBN: 978 0 580 85808 6 Status: Definitive
Posledná aktualizácia: 2026-11-04 (Počet položiek: 2 209 068)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.