Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BS IEC 62047-45:2025
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Silicon based MEMS fabrication technology. Measurement method of impact resistance of nanostructures.
NORMA vydaná dňa 1.4.2025
Informácie o norme:
Označenie normy: BS IEC 62047-45:2025
Dátum vydania normy: 1.4.2025
Kód tovaru: NS-1217674
Počet strán: 18
Približná hmotnosť: 54 g (0.12 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy BS IEC 62047-45:2025 :
ISBN: 978 0 539 21849 7 Status: Definitive
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
