Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BS IEC 62047-27:2017
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Bond strength test for glass frit bonded structures using micro-chevron-tests (MCT).
NORMA vydaná dňa 22.7.2020
Informácie o norme:
Označenie normy: BS IEC 62047-27:2017
Dátum vydania normy: 22.7.2020
Kód tovaru: NS-999489
Počet strán: 20
Približná hmotnosť: 60 g (0.13 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy BS IEC 62047-27:2017 :
ISBN: 978 0 580 89909 6 Status: Definitive
Doporučujeme:
