Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Semiconductor devices. Guidelines for reliability qualification plans. Early failure assessment.
NORMA vydaná dňa 27.10.2026
Označenie normy: BS EN IEC 63287-4:2026
Dátum vydania normy: 27.10.2026
Kód tovaru: NS-1288801
Počet strán: 22
Približná hmotnosť: 66 g (0.15 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
ISBN: 978 0 539 34785 2 Status: Definitive
Posledná aktualizácia: 2026-11-04 (Počet položiek: 2 209 068)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.