Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BS EN 62418:2010
Semiconductor devices. Metallization stress void test.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové zariadenia. Pokovovanie stress void skúška
NORMA vydaná dňa 31.8.2010
Informácie o norme:
Označenie normy: BS EN 62418:2010
Dátum vydania normy: 31.8.2010
Kód tovaru: NS-99332
Počet strán: 20
Približná hmotnosť: 60 g (0.13 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy BS EN 62418:2010 :
ISBN: 978 0 580 62610 4 Status: Definitive
Doporučujeme:
