Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BS EN 62374:2007
Semiconductor devices. Time dependent dielectric breakdown (TDDB) test for gate dielectric films.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové zariadenia. Časovo závislá elektrický prieraz (TDDB) test na dielektrickou filmy
NORMA vydaná dňa 31.10.2008
Informácie o norme:
Označenie normy: BS EN 62374:2007
Dátum vydania normy: 31.10.2008
Kód tovaru: NS-99287
Počet strán: 24
Približná hmotnosť: 72 g (0.16 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy BS EN 62374:2007 :
ISBN: 978 0 580 54048 6 Status: Under Review
Doporučujeme:
