Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BS EN 62374-1:2010
Semiconductor devices. Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers.
NORMA vydaná dňa 30.6.2011
Informácie o norme:
Označenie normy: BS EN 62374-1:2010
Dátum vydania normy: 30.6.2011
Kód tovaru: NS-964041
Počet strán: 20
Približná hmotnosť: 60 g (0.13 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
Anotácia textu normy BS EN 62374-1:2010 :
ISBN: 978 0 580 75206 3 Status: Definitive
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
