Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
BS EN 62047-16:2015
Semiconductor devices. Micro-electromechanical devices. Test methods for determining residual stresses of MEMS films. Wafer curvature and cantilever beam deflection methods.
Automaticky preložený názov:
Polovodičové zariadenia. Micro - elektromechanické zariadenie. Skúšobné metódy na stanovenie zvyškových napätí z MEMS filmov. Oblátky zakrivenie a konzolové metódy odrazu lúča
NORMA vydaná dňa 31.7.2015
Informácie o norme:
Označenie normy: BS EN 62047-16:2015
Dátum vydania normy: 31.7.2015
Kód tovaru: NS-611421
Počet strán: 18
Približná hmotnosť: 54 g (0.12 libier)
Krajina: Britská technická norma
Kategória: Technické normy BS
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy BS EN 62047-16:2015 :
ISBN: 978 0 580 78080 6 Status: Definitive
Doporučujeme:
