Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Test Method for Determining the Net Carrier Density on Bulk and Epitaxial Silicon Wafers by Using a Mercury Probe (Withdrawn 1992)
Automaticky preložený názov:
Skúšobná metóda na stanovenie Net Carrier sýtosti na veľkom a epitaxním kremíkových plátkov pomocou ortuťovým Probe ( Withdrawn 1992 )
| Jazyk | |
| Prevedenie |
|
| Dostupnosť | do 1 pracovných dní |
| Cena | NAOTÁZKU bez DPH |
| NA OTÁZKU |
Označenie normy: ASTM P224
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód tovaru: NS-58000
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Poskytovanie aktuálnych informácií o legislatívnych predpisoch vyhlásených v Zbierke zákonov od roku 1945.
Aktualizácia 2x v mesiaci !
Chcete vedieť viac informácii ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2026-09-22 (Počet položiek: 2 302 417)
© Copyright 2026 NORMSERVIS s.r.o.