Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Test Method for Interstitial Oxygen Content of Silicon Slices Polished on Both Sides by Computer-Assisted Infrared Spectrophotometry (Withdrawn 1988)
Automaticky preložený názov:
Skúšobná metóda pre Interstitial obsah kyslíka z kremíka plátky na oboch stranách vyhladila od Computer - Assisted Infrared Spektrofotometria ( Withdrawn 1988 )
Jazyk | |
Prevedenie |
|
Dostupnosť | SKLADOM |
Cena | NAOTÁZKU bez DPH |
NA OTÁZKU |
Označenie normy: ASTM P197
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód tovaru: NS-57977
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2025-02-04 (Počet položiek: 2 223 548)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.