Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM P112
Test Method for Interstitial Oxygen Content of Silicon Slices by Computer-Assisted Infrared Spectrophotometry (Withdrawn 1987)
Automaticky preložený názov:
Skúšobná metóda pre Interstitial obsah kyslíka Silicon Plátky počítačovými - Assisted Infrared Spektrofotometria ( Withdrawn 1987 )
| Jazyk | |
| Prevedenie |
|
| Dostupnosť | SKLADOM |
| Cena | NAOTÁZKU bez DPH |
| NA OTÁZKU |
Informácie o norme:
Označenie normy: ASTM P112
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód tovaru: NS-57912
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
