Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Test Method for Interstitial Oxygen Content of Silicon Slices by Computer-Assisted Infrared Spectrophotometry (Withdrawn 1987)
Automaticky preložený názov:
Skúšobná metóda pre Interstitial obsah kyslíka Silicon Plátky počítačovými - Assisted Infrared Spektrofotometria ( Withdrawn 1987 )
Jazyk | |
Prevedenie |
|
Dostupnosť | SKLADOM |
Cena | NAOTÁZKU bez DPH |
NA OTÁZKU |
Označenie normy: ASTM P112
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód tovaru: NS-57912
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2025-06-06 (Počet položiek: 2 203 816)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.