ASTM F996-11(2018)

Standard Test Method for Separating an Ionizing Radiation-Induced MOSFET Threshold Voltage Shift Into Components Due to Oxide Trapped Holes and Interface States Using the Subthreshold Current-Voltage Characteristics (Withdrawn 2023)



NORMA vydaná dňa 1.3.2018


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena79.90 bez DPH
79.90

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F996-11(2018)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.3.2018
Kód tovaru: NS-818551
Počet strán: 7
Približná hmotnosť: 21 g (0.05 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Kategórie - podobné normy:

Tranzistory

Anotácia textu normy ASTM F996-11(2018) :

Keywords:

c/v characteristics, current-voltage characteristics, interface states, ionizing radiation, MOSFET, oxide-trapped holes, threshold voltage shift, trapped holes,, ICS Number Code 31.080.30 (Transistors)

Odporúčame:

Aktualizácia zákonov

Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.