ASTM F815-88(1993)e1

Test Method for Detection of Epitaxial Spikes (Withdrawn 1999) (Includes all amendments And changes 8/16/2017).

Automaticky preložený názov:

Skúšobná metóda pre odhaľovanie Epitaxná Spikes ( Withdrawn 1999 )



NORMA vydaná dňa 1.1.1993


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena62.20 bez DPH
62.20

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F815-88(1993)e1
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.1.1993
Kód tovaru: NS-56530
Počet strán: 2
Približná hmotnosť: 6 g (0.01 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F815-88(1993)e1 :

Keywords:

Epitaxial spikes, Nondestructive evaluation (NDE)-semiconductors, Pass-fail test, Visual examination-electronic components/devices, epitaxial spike detection on silicon wafers, pass-fail test,, Silicon-semiconductor applications, wafers-epitaxial spike detection, test, ICS Number Code 31.080.30 (Transistors)

Odporúčame:

Aktualizácia technických noriem

Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.

Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.