Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM F80-94
Test Method for Crystallographic Perfection of Epitaxial Deposits of Silicon by Etching Techniques (Withdrawn 1998)
Automaticky preložený názov:
Skúšobná metóda pre Crystallographic Zdokonaľovanie epitaxního Vklady Silicon leptaním techniky ( Withdrawn 1998 )
Informácie o norme:
Označenie normy: ASTM F80-94
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód tovaru: NS-56484
Počet strán: 9
Približná hmotnosť: 27 g (0.06 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Anotácia textu normy ASTM F80-94 :
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
