Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM F775-88
Test Method for Wafer and Slice Flatness by Interferometric (Withdrawn 1991)
Automaticky preložený názov:
Skúšobná metóda pre Wafer a Slice Rovinnosť interferometrickými ( Withdrawn 1991 )
Informácie o norme:
Označenie normy: ASTM F775-88
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód tovaru: NS-56407
Počet strán: 7
Približná hmotnosť: 21 g (0.05 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Anotácia textu normy ASTM F775-88 :
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
