ASTM F744M-10

Standard Test Method for Measuring Dose Rate Threshold for Upset of Digital Integrated Circuits [Metric]

Automaticky preložený názov:

Štandardná skúšobná metóda pre meranie dávkového príkonu prah pre Rozrušená digitálnych integrovaných obvodov [Metric]



NORMA vydaná dňa 1.5.2010


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena70.80 bez DPH
70.80

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F744M-10
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.5.2010
Kód tovaru: NS-56310
Počet strán: 7
Približná hmotnosť: 21 g (0.05 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F744M-10 :

Keywords:

DIC, digital integrated circuits, dose rate, ionizing radiation, radiation dose rate, threshold for upset, upset, Circuitry, Current measurement--semiconductors, Destructive testing--semiconductors, Dose rate threshold, Dosimetry, Electrical conductors (semiconductors), Electron linear accelerator, Flash X-ray machines (FXR), Irradiance/irradiation--semiconductors, Lasers and laser applications, Linear threshold voltage, Radiation exposure--electronic components/devices, Upset threshold, Voltage

Odporúčame:

Aktualizácia technických noriem

Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.

Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.