ASTM F576-00

Standard Test Method for Measurement of Insulator Thickness and Refractive Index on Silicon Substrates by Ellipsometry

Automaticky preložený názov:

Štandardná skúšobná metóda pre meranie izolant hrúbky a indexu lomu na kremíkových podložkách podľa elipsometrie



NORMA vydaná dňa 10.6.2001


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena76.90 bez DPH
76.90

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F576-00
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.6.2001
Kód tovaru: NS-55767
Počet strán: 9
Približná hmotnosť: 27 g (0.06 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F576-00 :

Keywords:

dielectric thickness, ellipsometry, index of refraction, insulator thickness, refractive index, silicon dioxide, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Odporúčame:

EviZak - všetky zákony vrátane ich evidencie na jednom mieste

Poskytovanie aktuálnych informácií o legislatívnych predpisoch vyhlásených v Zbierke zákonov od roku 1945.
Aktualizácia 2x v mesiaci !

Chcete vedieť viac informácii ? Pozrite sa na túto stránku.




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.