Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM F522-94
Test Method for Stacking Fault Density of Epitaxial Layers of Silicon by Interference-Contrast Microscopy (Withdrawn 1998)
Automaticky preložený názov:
Skúšobná metóda pre stohovanie Porucha Hustota epitaxných vrstiev kremíka Interference - Contrast Microscopy ( Withdrawn 1998 )
Informácie o norme:
Označenie normy: ASTM F522-94
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód tovaru: NS-55613
Počet strán: 4
Približná hmotnosť: 12 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Anotácia textu normy ASTM F522-94 :
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
