Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Test Method for Stacking Fault Density of Epitaxial Layers of Silicon by Interference-Contrast Microscopy (Withdrawn 1998)
Automaticky preložený názov:
Skúšobná metóda pre stohovanie Porucha Hustota epitaxných vrstiev kremíka Interference - Contrast Microscopy ( Withdrawn 1998 )
Označenie normy: ASTM F522-94
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód tovaru: NS-55613
Počet strán: 4
Približná hmotnosť: 12 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2024-10-28 (Počet položiek: 2 206 160)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.