ASTM F391-02

Standard Test Methods for Minority Carrier Diffusion Length in Extrinsic Semiconductors by Measurement of Steady-State Surface Photovoltage (Withdrawn 2003)

Automaticky preložený názov:

Štandardné testovacie metódy pre Minority Carrier Diffusion dĺžka v Exogénne Semiconductors pomocou merania v ustálenom stave povrchových Photovoltage ( Withdrawn 2003 )



NORMA vydaná dňa 10.12.2002


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena76.10 bez DPH
76.10

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F391-02
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.12.2002
Kód tovaru: NS-55133
Počet strán: 10
Približná hmotnosť: 30 g (0.07 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F391-02 :

Keywords:

diffusion length, minority carriers, polysilicon, silicon, single crystal silicon, surface photovoltag, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Odporúčame:

Aktualizácia technických noriem

Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.

Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.