ASTM F2778-09

Standard Test Method for Measurement of Percent Crystallinity of Polyetheretherketone (PEEK) Polymers by Means of Specular Reflectance Fourier Transform Infrared Spectroscopy (R-FTIR)

Automaticky preložený názov:

Štandardná skúšobná metóda pre meranie Percento kryštalinity Polyetheretherketon (PEEK) polymérov prostriedky zrkadlové odrazivosti FTIR (R-FTIR)



NORMA vydaná dňa 15.11.2009


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena70.20 bez DPH
70.20

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F2778-09
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 15.11.2009
Kód tovaru: NS-54520
Počet strán: 4
Približná hmotnosť: 12 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F2778-09 :

Keywords:

crystallinity, Fourier transmission infrared spectroscopy (FTIR), polyetheretherketone (PEEK), specular reflectance, ICS Number Code 83.080.20 (Thermoplastic materials)

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.