ASTM F26-87a(1999)

Standard Test Methods for Determining the Orientation of a Semiconductive Single Crystal (Withdrawn 2003) (Includes all amendments And changes 3/2/2021).

Automaticky preložený názov:

Štandardné testovacie metódy pre stanovenie orientácie polovodivého monokryštálu ( Withdrawn 2003 )



NORMA vydaná dňa 1.1.1999


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena73.20 bez DPH
73.20

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F26-87a(1999)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.1.1999
Kód tovaru: NS-54209
Počet strán: 5
Približná hmotnosť: 15 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F26-87a(1999) :

Keywords:

germanium, orientation, preferential etch, semiconductor, silicon, X-ray diffraction, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Odporúčame:

Aktualizácia zákonov

Chcete mať istotu o platnosti využívaných predpisov?
Ponúkame Vám riešenie, aby ste mohli používať stále platné (aktuálne) legislatívne predpisy
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.