ASTM F2358-04

Standard Guide for Measuring Characteristics of Sapphire Substrates

Automaticky preložený názov:

Štandardné Sprievodca pre meranie Charakteristika Sapphire substráty



NORMA vydaná dňa 1.5.2004


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena67.30 bez DPH
67.30

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F2358-04
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.5.2004
Kód tovaru: NS-53668
Počet strán: 7
Približná hmotnosť: 21 g (0.05 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F2358-04 :

Keywords:
backside processing, compound semiconductors, flatness, form, front-to-front deviation (FFD), measurement, restrained, sag, sapphire, sapphire substrates, sori, taper, total thickness variation (TTV), unrestrained, ICS Number Code 25.100.70 (Abrasives)

Doporučujeme:




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.