ASTM F1535-00

Standard Test Method for Carrier Recombination Lifetime in Silicon Wafers by Noncontact Measurement of Photoconductivity Decay by Microwave Reflectance (Withdrawn 2003)

Automaticky preložený názov:

Štandardná skúšobná metóda pre Carrier rekombináciu Lifetime v kremíkových plátkov podľa bezkontaktné meranie fotovodivost úpadku mikrovlnným odrazivosť ( Withdrawn 2003 )



NORMA vydaná dňa 10.6.2000


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena77.80 bez DPH
77.80

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1535-00
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.6.2000
Kód tovaru: NS-50655
Počet strán: 12
Približná hmotnosť: 36 g (0.08 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F1535-00 :

Keywords:

Carrier recombination lifetime, Contactless measurement, Free carrier density, Impurities-semiconductors, Microwave reflection, Photoconductivity decay, Recombination lifetime, Silicon semiconductors-slices/wafers, carrier recombination lifetime-silicon wafers, by noncontact measurement, of photoconductivity decay by microwave reflectance, test, ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)

Odporúčame:

EviZak - všetky zákony vrátane ich evidencie na jednom mieste

Poskytovanie aktuálnych informácií o legislatívnych predpisoch vyhlásených v Zbierke zákonov od roku 1945.
Aktualizácia 2x v mesiaci !

Chcete vedieť viac informácii ? Pozrite sa na túto stránku.




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.