Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Standard Guide for Use of an X-Ray Tester (?10 keV Photons) in Ionizing Radiation Effects Testing of Semiconductor Devices and Microcircuits
NORMA vydaná dňa 1.6.2025
Označenie normy: ASTM F1467-25
Dátum vydania normy: 1.6.2025
Kód tovaru: NS-1223065
Počet strán: 18
Približná hmotnosť: 54 g (0.12 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
ionizing radiation effects, microcircuits, radiation hardness, semiconductor devices, X-ray testing,, ICS Number Code 31.020 (Electronic components in general)
Posledná aktualizácia: 2025-07-09 (Počet položiek: 2 207 504)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.