Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Method of Test for Thickness of Epitaxial Layers of Silicon by Measurement of Stacking Fault Dimension (Withdrawn 1985)
Automaticky preložený názov:
Metóda testu pre Hrúbka epitaxných vrstiev kremíka meraním stohovanie chýb dimenzie ( Withdrawn 1985 )
Jazyk | |
Prevedenie |
|
Dostupnosť | SKLADOM |
Cena | NA OTÁZKU bez DPH |
NA OTÁZKU |
Označenie normy: ASTM F143-73(1978)
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód tovaru: NS-50262
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2024-09-25 (Počet položiek: 2 350 354)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.