Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Test Method for Determining the Mean Interface Trap Density of Mosfets by Charge-Pumping (Withdrawn 1997)
Automaticky preložený názov:
Skúšobná metóda na stanovenie Mean Interface Trap Hustota MOSFETs podľa Charge - čerpacej ( Withdrawn 1997 )
Označenie normy: ASTM F1340-92
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód tovaru: NS-49950
Počet strán: 5
Približná hmotnosť: 15 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
ICS Number Code 31.080.30 (Transistors)
Poskytovanie aktuálnych informácií o legislatívnych predpisoch vyhlásených v Zbierke zákonov od roku 1945.
Aktualizácia 2x v mesiaci !
Chcete vedieť viac informácii ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2024-05-03 (Počet položiek: 2 896 946)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.