Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Test Method for Determining the Mean Interface Trap Density of Mosfets by Charge-Pumping (Withdrawn 1997)
Automaticky preložený názov:
Skúšobná metóda na stanovenie Mean Interface Trap Hustota MOSFETs podľa Charge - čerpacej ( Withdrawn 1997 )
Označenie normy: ASTM F1340-92
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód tovaru: NS-49950
Počet strán: 5
Približná hmotnosť: 15 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
ICS Number Code 31.080.30 (Transistors)
Posledná aktualizácia: 2024-09-25 (Počet položiek: 2 350 354)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.