Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Standard Guide for Analysis of Overtest Data in Radiation Testing of Electronic Parts
Automaticky preložený názov:
Štandardné Príručka pre analýzu dát v Overtest Radiačná testovanie elektronických súčiastok
NORMA vydaná dňa 10.12.1999
Označenie normy: ASTM F1263-99
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.12.1999
Kód tovaru: NS-49675
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
confidence, rejection, overtest data, statistical analysis, ICS Number Code 31.020 (Electronic components in general)
1. Scope | ||
1.1 This guide covers the use of overtesting in order to reduce the required number of parts that must be tested to meet a given quality acceptance standard. Overtesting is testing a sample number of parts at a stress higher than their specification stress in order to reduce the amount of necessary data taking. This guide discusses when and how overtesting may be applied to forming probabilistic estimates for the survival of electronic piece parts subjected to radiation stress. Some knowledge of the probability distribution governing the stress-to-failure of the parts is necessary though exact knowledge may be replaced by over-conservative estimates of this distribution. |
||
2. Referenced Documents | ||
|
Poskytovanie aktuálnych informácií o legislatívnych predpisoch vyhlásených v Zbierke zákonov od roku 1945.
Aktualizácia 2x v mesiaci !
Chcete vedieť viac informácii ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2024-05-17 (Počet položiek: 2 902 148)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.