ASTM F1227-89(1999)

Test Method for Total Mass Loss of Materials and Condensation of Outgassed Volatiles on Microelectronics-Related Substrates (Withdrawn 2000)

Automaticky preložený názov:

Skúšobná metóda pre celkovou hmotnosťou straty materiálov a kondenzáciou odplyniť prchavých látok na Microelectronics súvisiacich substráty ( Withdrawn 2000 )



NORMA vydaná dňa 10.4.1999


Jazyk
Prevedenie
Dostupnosťdo 1 pracovných dní
Cena73.50 bez DPH
73.50

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM F1227-89(1999)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 10.4.1999
Kód tovaru: NS-49566
Počet strán: 6
Približná hmotnosť: 18 g (0.04 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM F1227-89(1999) :

Keywords:

Collected volatile condensable materials (CVCM), Condensables, Electrical conductors-semiconductors, Electronic materials/applications, Mass loss, Microelectronics industry, Outgassing properties, Silicon semiconductors, Thermoplastics, Thermosetting plastics, Total mass loss (TML), Vacuum testing, Volatile matter content, total mass loss of materials and condensation of outgassed volatiles on, microelectronics-related substrates, test, ICS Number Code 83.140.20 (Laminated sheets)

Odporúčame:

Aktualizácia technických noriem

Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.

Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.




Cookies Cookies

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.

Súhlas môžete odmietnuť tu.

Tu máte možnosť prispôsobiť si nastavenia súborov cookies v súlade s vlastnými preferenciami.

Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov.