Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Standard Specification for Semiconductor Device Passivation Opening Layouts (Withdrawn 2007)
Automaticky preložený názov:
Štandardné špecifikácie pre polovodičové zariadenia pasivácia Otváracia rozvrhnutie ( Withdrawn 2007 )
NORMA vydaná dňa 1.1.2001
Označenie normy: ASTM F1211-89(2001)
Poznámka: NEPLATNÁ
Dátum vydania normy: 1.1.2001
Kód tovaru: NS-49517
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
opening layouts, passivation, semiconductor devices, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)
| 1. Scope |
|
1.1 This specification covers standard semiconductor device passivation opening layouts for various tape automated bonding interconnection technologies. 1.2 This specification establishes the nominal passivation opening dimensions, nominal passivation, opening spacing, nominal corner passivation opening offset, minimum scribe guard and minimum die size for the most common input/ output counts within each technology. 1.3 This specification is extendable to other interconnection technologies if the passivation opening and spacing are adjusted in such a way that the progression is not modified. 1.4 The values stated in SI units are to be regarded as the standard. The values given in parentheses are for information only. |
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2025-12-18 (Počet položiek: 2 252 678)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.