Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM F1192-24
Standard Guide for the Measurement of Single Event Phenomena (SEP) Induced by Heavy Ion Irradiation of Semiconductor Devices
NORMA vydaná dňa 1.5.2024
Informácie o norme:
Označenie normy: ASTM F1192-24
Dátum vydania normy: 1.5.2024
Kód tovaru: NS-1187034
Počet strán: 12
Približná hmotnosť: 36 g (0.08 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Kategórie - podobné normy:
Anotácia textu normy ASTM F1192-24 :
Keywords:
SEB, SEE, SEFI, SEGR, SEL, SEP, SEP cross section, SEU, single event, single event effect, single event phenomena, single event upset, space environment,, ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
