Cookies
Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
ASTM F1189-88
Test Method for Using Computer-Assisted Infrared Spectrophotometry to Measure the Interstitial Oxygen Content of Silicon Slices Polished on Both Sides (Withdrawn 1993)
Automaticky preložený názov:
Skúšobná metóda pre použitie Computer - Assisted Infrared Spectrophotometry zmerať Intersticiálna obsah kyslíka v Silicon plátky na oboch stranách vyhladila ( Withdrawn 1993 )
Informácie o norme:
Označenie normy: ASTM F1189-88
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód tovaru: NS-49439
Počet strán: 4
Približná hmotnosť: 12 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Anotácia textu normy ASTM F1189-88 :
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Odporúčame:
Aktualizácia technických noriem
Chcete mať istotu, že používate len platné technické normy?
Ponúkame Vám riešenie, ktoré Vám zaistí mesačný prehľad o aktuálnosti noriem, ktoré používate.
Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.
