Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Test Method for Using Computer-Assisted Infrared Spectrophotometry to Measure the Interstitial Oxygen Content of Silicon Slices Polished on Both Sides (Withdrawn 1993)
Automaticky preložený názov:
Skúšobná metóda pre použitie Computer - Assisted Infrared Spectrophotometry zmerať Intersticiálna obsah kyslíka v Silicon plátky na oboch stranách vyhladila ( Withdrawn 1993 )
Označenie normy: ASTM F1189-88
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód tovaru: NS-49439
Počet strán: 4
Približná hmotnosť: 12 g (0.03 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
ICS Number Code 29.045 (Semiconducting materials)
Posledná aktualizácia: 2025-12-22 (Počet položiek: 2 253 013)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.