Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Test Method for Resistivity of Silicon Epitaxial Layers by the Three-Probe Voltage Breakdown Method (Withdrawn 1993)
Automaticky preložený názov:
Skúšobná metóda pre odporom Silicon epitaxných vrstiev Three - Probe napätia Poruchové metódy ( Withdrawn 1993 )
Jazyk | |
Prevedenie |
|
Dostupnosť | SKLADOM |
Cena | NA OTÁZKU bez DPH |
NA OTÁZKU |
Označenie normy: ASTM F108-88
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód tovaru: NS-49051
Približná hmotnosť: 300 g (0.66 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
ICS Number Code 31.040.01 (Resistors in general)
Poskytovanie aktuálnych informácií o legislatívnych predpisoch vyhlásených v Zbierke zákonov od roku 1945.
Aktualizácia 2x v mesiaci !
Chcete vedieť viac informácii ? Pozrite sa na túto stránku.
Posledná aktualizácia: 2024-10-18 (Počet položiek: 2 205 605)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.