Potrebujeme váš súhlas na využitie jednotlivých dát, aby sa vám okrem iného mohli ukazovať informácie týkajúce sa vašich záujmov. Súhlas udelíte kliknutím na tlačidlo „OK“.
Guide for Measuring Time-Dependant Total-Dose Effects in Semiconductor Devices Exposed to Pulsed Ionizing Radiation (Withdrawn 1994)
Automaticky preložený názov:
Sprievodca pre meranie Time - závislá Celkom - Dose efekty v polovodičových súčiastok vystavených pulzný ionizujúceho žiarenia ( Withdrawn 1994 )
Označenie normy: ASTM F1032-91
Poznámka: NEPLATNÁ
Kód tovaru: NS-48877
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM
Keywords:
ICS Number Code 31.080.01 (Semi-conductor devices in general)
Posledná aktualizácia: 2024-05-01 (Počet položiek: 2 896 514)
© Copyright 2024 NORMSERVIS s.r.o.