ASTM E986-04(2017)

Standard Practice for Scanning Electron Microscope Beam Size Characterization



NORMA vydaná dňa 1.6.2017


Jazyk
Prevedenie
DostupnosťSKLADOM
Cena36.20 bez DPH
36.20

Informácie o norme:

Označenie normy: ASTM E986-04(2017)
Dátum vydania normy: 1.6.2017
Počet strán: 3
Približná hmotnosť: 9 g (0.02 libier)
Krajina: Americká technická norma
Kategória: Technické normy ASTM

Anotácia textu normy ASTM E986-04(2017) :

Keywords:
electron beam size, E766, graphite fiber, magnification, NIST-SRM 2069B, resolution, SEM, SEM performance, spot size, waveform ,, ICS Number Code 31.120 (Electronic display devices), 37.020 (Optical equipment)

Odporúčame:

EviNor - dokonalá evidencia Vašich technických noriem

Do detailu prepracovaný a praxou overený informačný systém s normalizačnou tématikou.
Mesačne aktualizované -> stále platné technické normy.

Chcete vedieť viac informácií ? Pozrite sa na túto stránku.


Tento web používa cookies. Ďalším prechádzaním tohto webu vyjadrujete súhlas s ich používaním. Viac informácií / Rozumiem